张家界Evolution™ 220 紫外可见分光光度计

2011 年度 R&D 100 大奖获得者。采用 Thermo Scientific™ Evolution 201 和 220 紫外-可见光分光光度计进行分析，扩展了实验室的应用范围，并提高了生产率。新一代 Thermo Scientific™ INSIGHT™ 软件可同时应用于平板电脑和计算机控件，确保您的仪器紧跟技术潮流，并随时应对新的样品挑战。我们的自定义用户环境 (CUE) 软件允许您完全自定义逻辑测量步骤和输出环境，从而将您的常规测量提升到新的水平。

 

无论常规分析还是研究分析，该系列仪器真正的创新之处在于增强了实用性和性能 - 却不会增加复杂性。简单的软件、先进的仪器以及广泛的附件选择让 Evolution 201 和 220 系统能按您希望的方式进行实验并获得您需要的结果。

 

INSIGHT 软件——化繁为简

◆ 个性化的主屏幕，易于导航，增强了便利性

◆ 工作手册工具可以节省时间，确保实验结果的准确性

◆ CUE 脚本允许创建定制的界面和简化的工作流程

 

优化的工程学设计可提供更佳性能

◆ 1nm 光谱带宽的双光束几何元件实现各种精密测量

◆ 光学汇聚 (AFBG) 技术极大程度上优化了微量池、固体样品和光纤探针的性能

◆ 氙闪光灯无需预热时间，可进行瞬时测量

◆ 采用电子触发，为快速混合动力学测定提供最高水平的准确度

◆ 精密的单色器驱动设计，提供快速扫描数据采集和波长准确度

 

指尖轻点，轻松完成

◆ 利用彩色触摸屏和内置计算机进行仪器控制

◆ 采用集成式键盘与 INSIGHT 软件通讯

◆ 灵活便利的本机或计算机配置选项

 

满足多种采样需求的附件

◆ 多种附件选择，包括各种温度控制选件、样品转换器、吸样器和固体采样装置，帮助您完成分析任务

◆ 选择 Peltier 单个池架或智能 Peltier 8 联池系统来进行温度控制，并对样品实施 0°到 100 °C 的监控

◆ 易于使用的软件集成化帮助您完全控制整个测定过程

 

保障系统性能

◆ 赛默飞紫外校验包支持各种系统认证和验证工作

◆ 文件记录功能确保您的系统符合 FDA、GxP、ISO 9001:2000 和 ISPE 2001 规定和条例的要求

◆ 汞灯附件可用于进行仪器校准

◆ 赛默飞 INSIGHT security 软件能够提供完整的工具以符合 21 CFR 第 11 部分要求

 

规格参数

基线平坦度：±0.0010 A，200-800 nm，1.0 nm SBW，平滑

描述： Evolution 220 UV-Vis Spectrophotometer, Computer Control, includes Euro/US/UK power cords

检测器类型：双硅光电二极管

显示器：无

尺寸（长 x 宽 x 高）：62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in)

光谱带宽：可变：1.0nm；2.0nm；优化的 AFBG 微量样品池；优化的 AFBG 光纤；优化的 AFBG 材料

类型：紫外-可见光分光光度计，计算机控制，随附欧洲/美国/英国规格电源电缆

Wavelength Range：190 至 1100 nm

漂移：<0.0005 A/h，500 nm，1.0 nm SBW，1 h 预热

电气要求：100-240 V 50-60 Hz，自动选择，最大 150 W

包括：EU/US/UK power cords

键盘：密封膜

灯寿命：7 years typical

噪声：0 A：<0.00015 A；1 A：<0.00025 A；2 A：<0.00080A；260 nm，1nm SBW，RMS

光学设计：双光束（指示样品和参考比色皿位置）；应用聚焦光束几何结构； Czerny-Turner 单色器

药典合规性测试：（保证性能规格）

分辨率（甲苯-正己烷）： ≥1.8A

光度准确度 (60 mg/L K2Cr2O7)： ±0.010A

杂散光： ≤1% T @ 198 nm：KCI； ≤ - 0.05 %AT @ 220 nm：Nal，Kl

波长准确性： ±0.5 nm，541.9、 546.1 nm Hg 发射线， ±0.8 nm 全量程

波长重复性： ≤0.05 nm，546.1 nm Hg 发射线重复扫描

光度精度：1 A： ±0.006 A, 2 A： ±0.010 A, 在 440 nm 处测量，使用已校准中性滤光片

光度显示：-0.3 至 4.0A

光度范围：>3.5 A

透射比重复性：±0.0002 A

处理器：Microsoft Windows 7、Windows 8

扫描纵坐标模式：吸光度, % 透射率, % 折射率,Kubelka-Munk,log (1/R),log (Abs),Abs*因子,强度

扫描速度：< 1-6000 nm/min，可变

质保期：3 Years

波长精度：±0.5 nm （541.9、546.1 nm 汞线），±0.8 nm（190 - 1100 nm 全范围）

波长数据间隔：10、5、2、1.0、0.5、0.2、0.1nm

波长重复性：≤0.05nm （546.11 nm 汞谱线，10 次测量的 SD）

重量（英制）：32 lb

重量（公制）：14.4 kg

Unit Size：Each